從晶圓探傷到材料科研：林時計 LA-100IR 紅外光源選型與應(yīng)用指南

發(fā)布日期：2026-06-25      瀏覽次數(shù)：8

LA-100IR整機(jī)外觀

一、產(chǎn)品基礎(chǔ)概述

LA-100IR 是日本林時計專為純近紅外精密光學(xué)檢測研發(fā)的 100W 鹵素光纖光源，內(nèi)置 IR80 專業(yè)紅外濾光片，完1全屏蔽可見光，僅輸出800~1100nm 近紅外波段，解決常規(guī)白光、寬譜光源雜光干擾成像、檢測誤判的痛點，適配機(jī)器視覺、半導(dǎo)體無損探傷、理化科研、夜視設(shè)備校準(zhǔn)等專業(yè)場景，可搭配各類光纖導(dǎo)光束靈活布光，支持自動化產(chǎn)線集成與實驗室臺式使用。

核心技術(shù)參數(shù)

表格

項目	詳細(xì)規(guī)格
光源類型	DC 直流 12V 100W 帶紅外反射鏡鹵素?zé)?/span>
輸出波段	800~1100nm（無任何可見光溢出）
調(diào)光方式	電壓可調(diào)，光強(qiáng)調(diào)節(jié)范圍 2%~100%
遠(yuǎn)程控制	DC0~5V 電壓遠(yuǎn)程調(diào)光，適配自動化設(shè)備
防護(hù)設(shè)計	過流保護(hù)、過熱斷電保護(hù)、燈管斷路檢測報警
整機(jī)功耗	130W，寬電壓 AC100-240V 自適應(yīng)
燈泡壽命	平均 1000 小時，強(qiáng)制風(fēng)冷散熱
整機(jī)重量	約 2.7kg，工業(yè)金屬機(jī)身
適配配件	各類單支、環(huán)形、分叉光纖導(dǎo)光管

五大核心產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 光譜純度極1高，零可見光干擾

   內(nèi)置 IR80 高通紅外濾鏡，徹1底過濾 800nm 以下可見光，肉眼不可見光源，既不會干擾人眼作業(yè)，也避免表面反光造成成像噪點，大幅降低精密檢測錯檢率。

2. 直流無頻閃穩(wěn)定輸出

   直流點燈模式，長時間相機(jī)連續(xù)拍攝、光譜采集無畫面閃爍，實驗數(shù)據(jù)重復(fù)性、工業(yè)成像一致性強(qiáng)。

3. 本地 + 遠(yuǎn)程雙模式調(diào)光

   機(jī)身旋鈕手動調(diào)光 + 電壓信號遠(yuǎn)程控制，可接入 PLC 視覺產(chǎn)線，實現(xiàn)工位亮度程序化調(diào)節(jié)。

4. 強(qiáng)穿透廣譜近紅外輸出

   對比窄帶紅外 LED 光源，800-1100nm 連續(xù)光譜對硅、塑料、樹脂、薄膜、碳纖維等半透明材質(zhì)穿透性更強(qiáng)，可識別多層內(nèi)部隱性缺陷。

5. 工業(yè)耐用易集成

   緊湊型機(jī)身、標(biāo)準(zhǔn)光纖接口，臺式、設(shè)備嵌入式安裝均可，自帶安全防護(hù)電路，適配車間、實驗室嚴(yán)苛工況。

二、全行業(yè)運用場景深度分析

（一）半導(dǎo)體行業(yè)（核心應(yīng)用領(lǐng)域）

應(yīng)用場景

1. 硅晶圓缺陷透視檢測：近紅外可穿透單晶硅片，檢測晶圓內(nèi)部微裂紋、空洞、雜質(zhì)顆粒、隱痕劃痕，精度可達(dá) 5μm，是晶圓來料、封裝前無損篩查標(biāo)配光源。

2. 3D 封裝、TSV 硅通孔填充完整性檢測，芯片夾層、塑封內(nèi)部引線偏移、氣泡缺陷成像。

3. SiC、GaN 第三代半導(dǎo)體晶片厚度紅外干涉測量，精度 ±0.1μm。

選型適配價值

普通白光光源僅能檢測表面瑕疵，LA-100IR 依靠純近紅外穿透能力實現(xiàn)非接觸式內(nèi)部探傷，避免探針式檢測劃傷精密晶圓，產(chǎn)線在線檢測效率提升 90% 以上。

（二）機(jī)器視覺 & 精密工業(yè)無損檢測

1. 塑膠、薄膜、玻璃制品檢測

   穿透亞克力、PET 薄膜、塑料外殼，檢測內(nèi)部氣泡、分層、隱形劃痕、注塑缺料、雜質(zhì)黑點；用于鋰電池隔膜、光學(xué)薄膜瑕疵高速視覺檢測。

2. 汽車零部件檢測

   碳纖維復(fù)合材料分層、樹脂分布均勻性檢測；塑料內(nèi)飾、線束護(hù)套內(nèi)部缺陷篩查；車身焊接區(qū)域虛焊、氣孔紅外成像檢測；車載自動駕駛紅外攝像頭、毫米波傳感器校準(zhǔn)測試。

3. 電子 PCB、精密元器件檢測

   透過電路板阻焊層、封裝膠，查看內(nèi)層線路偏移、焊點虛焊、元器件引腳氧化、內(nèi)部封裝異物。

（三）理化科研實驗室領(lǐng)域

1. 材料近紅外光譜透射 / 反射特性測試、高分子、半導(dǎo)體材料光學(xué)性能研究；

2. 生物樣本、植物葉片近紅外成像觀測，農(nóng)產(chǎn)品內(nèi)部糖度、霉變無損實驗分析；

3. 光學(xué)鏡頭、紅外成像相機(jī)、光譜儀設(shè)備標(biāo)定校準(zhǔn)，暗室近紅外光學(xué)實驗環(huán)境搭建；

4. 文物保護(hù)：古畫、古籍紅外脫墨成像、顏料成分無損分析，不會損傷文物基材。

（四）安防、夜視測試領(lǐng)域

1. 安防監(jiān)控紅外夜視攝像頭性能校準(zhǔn)、夜視儀靈敏度測試，模擬夜間野外紅外環(huán)境；

2. 隱蔽式無可見光現(xiàn)場照明，安防取證、暗環(huán)境目標(biāo)紅外拍攝，不會暴露觀測點位；

3. 紅外二維碼、隱形防偽標(biāo)識掃描識別（可見光不可見，僅近紅外可成像讀取）。

（五）食品醫(yī)藥檢測

1. 瓶裝藥品、密封食品外包裝異物（玻璃碎屑、金屬、塑料雜質(zhì)）無損透視檢測；

2. 果蔬內(nèi)部霉變、糖度、空心缺陷無損快速篩查，依托 970nm 糖分特征吸收波段實現(xiàn)高精度檢測，檢測誤差小于0.5°Brix。

三、競品對比與選型適配分析

1. 對比普通寬譜鹵素光源

普通光源包含可見光 + 紅外，檢測時工件表面強(qiáng)光反射產(chǎn)生大量噪點，只能做表面檢測；LA-100IR 純紅外輸出，可穿透材質(zhì)做內(nèi)部缺陷檢測，成像信噪比提升 60% 以上，適合高精度質(zhì)檢場景。

2. 對比窄帶紅外 LED 光源

LED 為單一 / 窄波段紅外，僅適合固定單一材質(zhì)檢測；LA-100IR 連續(xù) 800-1100nm 寬近紅外光譜，適配硅、塑膠、樹脂、碳纖維多品類材料，缺陷檢出覆蓋面更廣，適合多材質(zhì)通用檢測、光譜科研實驗。

3. 適用不適用場景總結(jié)

? 推薦使用場景：需要穿透半透明材料內(nèi)部探傷、無可見光暗環(huán)境成像、近紅外光譜實驗、夜視設(shè)備標(biāo)定、晶圓半導(dǎo)體精密檢測。
? 不推薦場景：可見光表面外觀檢測、短波紅外（＞1100nm）光譜研究、高溫烘烤加熱類場景。

四、使用配套方案建議

1. 常規(guī)缺陷檢測：搭配環(huán)形光纖、同軸光纖，消除工件表面反光，微小瑕疵成像更清晰；

2. 大面積工件透視：選用分叉式、直射型光纖，搭配漫反射鏡頭均勻布光；

3. 自動化產(chǎn)線：利用設(shè)備 DC0-5V 遠(yuǎn)程調(diào)光功能接入視覺控制器，實現(xiàn)亮度自動化閉環(huán)調(diào)節(jié)；

4. 實驗室光譜測試：搭配準(zhǔn)直鏡頭、光譜儀使用，可精準(zhǔn)采集材料近紅外光譜數(shù)據(jù)。